实验简介：

随着科技的发展，各种新型的集成电路温度传感器器件不断涌现，并大批量生产和扩大应用。这类集成电路测温器件有以下几个优点：(1)温度变化引起输出量的变化呈现良好的线性关系；(2)不需要参考点；(3)抗干扰能力强；(4)互换性好、使用简单方便。因此，这类传感器已在科学研究、工业和家用电器温度传感器等方面被广泛使用于温度的精确测量和控制。PN结作为最基本的核心半导体器件，得到了广泛的应用，构成了整个半导体产业的基础。在常见的电路中，可作为整流管、稳压管；在传感器方面，可以作为温度传感器、光敏二极管等。因此，研究和掌握PN结的特性具有重要的意义。

本实验中，通过测量正向电流和正向压降的关系，研究PN结的正向特性。由可调微电流源输出一个稳定的正向电流，测量不同温度下的PN结正向电压值，以此分析PN结正向压降的温度特性、测量玻尔兹曼常数，估算半导体材料的禁带宽度，以及估算通常难以直接测量的极微小的PN结反向饱和电流。